三相可控硅調(diào)節(jié)器JW系列JW系列是用于三相控制的晶閘管調(diào)節(jié)器,結(jié)構(gòu)緊湊,重量輕,能夠進(jìn)行高密度儀器測量。通過采用6臂控制,可控性得到改善。有兩種控制方法,相位控制方法和分頻控制方法,可以通過切換使用。對于相位控制方法,準(zhǔn)備每個反饋控制類型的電壓,電流,功率和沒有反饋控制的類型,并且可以根據(jù)加熱器的特性選擇模型。緊湊的整體結(jié)構(gòu)具有纖細(xì)結(jié)構(gòu)和窄水平寬度,可以增加面板安裝密度。設(shè)置通信單元(選項)可以顯
2018-08-04
MEMS元件/元件尺寸為2.5×3.0 mm標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格測量原理熱傳導(dǎo)方法氣體采樣自然擴(kuò)散測量范圍0到2%顯示7段LED 4位數(shù)顯示(分辨率0.01%)電源燈,報警燈1,2,故障指示報警第一次報警:0.5%,第二次報警:1.0%報警延遲30秒以內(nèi)外部輸出4至20 mA模擬輸出(分辨率0.01%)報警聯(lián)系非電壓觸點(diǎn)(400 V,0.1 A)使用環(huán)境-10至50°C,90%RH或更低(無冷凝)功耗3瓦或更
2018-08-04
制圖放大圖片規(guī)范模型IR-AHT?適用于低溫測量方法寬帶輻射溫度計測量溫度范圍-50至1000°C檢測元素?zé)犭姸褱y量波長8至13微米準(zhǔn)確度等級低于200°C:±2°C±1位200°C及以上:±1%測量值±1位再生性1°C±1位溫度漂移低于300°C:0.15°C /°C?300°C至低于700°C:0.05%測量值/°C?700°C或更高:測量值的±0.025%/°C
2018-08-03
制圖放大圖片規(guī)范模型IR-AHU?適用于高溫測量方法窄帶輻射溫度計測量溫度范圍900~3000℃檢測元素硅測量波長0.65μm準(zhǔn)確度等級低于1500°C:測量值的±0.5%±1?至少于1500至2000°C的數(shù)字:±1%的測量值±1位2000°C或更高:±2%的測量值±1?位數(shù)再生性1°C±1位溫度漂移測量值的0.015%/°C決議1℃響應(yīng)時間0.5秒光學(xué)系統(tǒng)鏡頭可移
2018-08-03
制圖放大圖片規(guī)范模型IR-AHU?適用于高溫測量方法窄帶輻射溫度計測量溫度范圍900~3000℃檢測元素硅測量波長0.65μm準(zhǔn)確度等級低于1500°C:測量值的±0.5%±1?至少于1500至2000°C的數(shù)字:±1%的測量值±1位2000°C或更高:±2%的測量值±1?位數(shù)再生性1°C±1位溫度漂移測量值的0.015%/°C決議1℃響應(yīng)時間0.5秒光學(xué)系統(tǒng)鏡頭可移
2018-08-03
制圖放大圖片規(guī)范模型中高溫 IR-AHS測量方法窄帶輻射溫度計測量溫度范圍600~3000℃檢測元素硅測量波長0.96μm準(zhǔn)確度等級低于1500°C:測量值的±0.5%±1 至少于1500至2000°C的數(shù)字:±1%的測量值±1位2000°C或更高:±2%的測量值±1 位數(shù)再生性1°C±1位溫度漂移測量值的0.015%/°C決議1℃響應(yīng)時間0.5秒光學(xué)系統(tǒng)鏡頭可移動
2018-08-03
制圖放大圖片規(guī)范模型中高溫 IR-AHS測量方法窄帶輻射溫度計測量溫度范圍600~3000℃檢測元素硅測量波長0.96μm準(zhǔn)確度等級低于1500°C:測量值的±0.5%±1 至少于1500至2000°C的數(shù)字:±1%的測量值±1位2000°C或更高:±2%的測量值±1 位數(shù)再生性1°C±1位溫度漂移測量值的0.015%/°C決議1℃響應(yīng)時間0.5秒光學(xué)系
2018-08-03
制圖放大圖片規(guī)范模型IR-AHT 適用于低溫測量方法寬帶輻射溫度計測量溫度范圍-50至1000°C檢測元素?zé)犭姸褱y量波長8至13微米準(zhǔn)確度等級低于200°C:±2°C±1位200°C及以上:±1%測量值±1位再生性1°C±1位溫度漂移低于300°C:0.15°C /°C 300°C至低于700°C:0.05%測量值/°C 700°C或更高:測量值的±0.025%/°C
2018-08-03